iEDX-150T镀层测厚仪

应用领域

 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域；

技术指标

多镀层分析，1～5层；

测试精度：0.001 μm；

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；

测量时间：10~30秒；

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

6个准直器及多个滤光片自动切换；

 XYZ三维移动平台，MAX荷载为5公斤；

 高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置；

多变量非线性去卷积曲线拟合；

高性能FP/MLSQ分析；

仪器尺寸：618×525×490mm；

样品台尺寸：250×220mm；

样品台移动范围：前后左右各80mm、高度90mm。

图谱界面

软件支持无标样分析；

宽大分析平台和样品腔；

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；

采用多种光谱拟合分析处理技术；

镀层测厚分析精度可达到0.001μm。

分析报告结果

直接打印分析报告；
报告可转换为PDF，EXCEL格式。

样品分析图谱：

测试结果界面：